本項(xiàng)目共涉及4套/臺(tái)科研設(shè)備的采購(gòu),，旨在提升物理與天文學(xué)院在薄膜材料表征及量子能源領(lǐng)域的基礎(chǔ)研發(fā)能力,，打造更具學(xué)科特色和優(yōu)勢(shì)的科研協(xié)作平臺(tái),。以下是各套/臺(tái)設(shè)備的采購(gòu)需求概述： “集成型電化學(xué)工作站”在集成度,、精度及抗干擾方面均比傳統(tǒng)電化學(xué)測(cè)試儀有顯著提升,，其配備有微電流充放電測(cè)試儀和電化學(xué)分析儀，且整套設(shè)備置于惰性氣氛手套箱內(nèi)運(yùn)行,，保證了測(cè)試過(guò)程不受環(huán)境中水氧成分的影響,；該設(shè)備預(yù)算53萬(wàn)。 “二維光譜橢偏儀”可提供二維薄膜厚度,、折射率和吸收系數(shù)等關(guān)鍵參數(shù)的高精度數(shù)據(jù),，支持Mapping自動(dòng)平臺(tái)，支持絨面測(cè)試,，其自準(zhǔn)直望遠(yuǎn)鏡 顯微鏡可用于精密樣品對(duì)準(zhǔn)（高度和傾斜度）及電子視頻式圖像對(duì)準(zhǔn)等,；該設(shè)備預(yù)算55萬(wàn)。 “非接觸式厚度儀”： 1. 厚度測(cè)量范圍：23.5mm,； 2. 外徑測(cè)量范圍：400mm,； 3. 適用產(chǎn)品類型：晶圓、平面透明光學(xué)零件,、不透明光學(xué)零件,； 4. 支持X.Y軸平移多點(diǎn)測(cè)量。 5. 對(duì)標(biāo)日本三豐測(cè)厚表 6. 含超聲顯微鏡,，檢測(cè)膜層在襯底表面的質(zhì)量,，具備定量測(cè)分析功能，以圖像方式直觀顯示被測(cè)件內(nèi)部缺陷的位置,、形狀和大小,，并進(jìn)行缺陷的尺寸和面積統(tǒng)計(jì)，自動(dòng)計(jì)算缺陷占所測(cè)量面積的百分比,；具備缺陷尺寸標(biāo)識(shí),；厚度與測(cè)距等功能。 7. 具備圖像著色功能,，可根據(jù)相位翻轉(zhuǎn)自動(dòng)著色,；可根據(jù)灰度等級(jí)手動(dòng)著色；可根據(jù)厚度變化,，自動(dòng)著色,；該設(shè)備預(yù)算85萬(wàn),。 “高亮度糾纏源系統(tǒng)” 可以提高糾纏光子對(duì)的亮度，實(shí)現(xiàn)更優(yōu)的貝爾不等式違背,，配備的單光子探測(cè)效率更高,，暗計(jì)數(shù)更低，所以總體性能將更優(yōu),，便于應(yīng)用于量子信息實(shí)驗(yàn)及未來(lái)的量子糾纏網(wǎng)絡(luò)建設(shè),；該設(shè)備預(yù)算65萬(wàn)元。 上述設(shè)備采購(gòu)均滿足我們對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量,、服務(wù),、安全及時(shí)限要求，且符合國(guó)家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),。本項(xiàng)目中如有屬于國(guó)家強(qiáng)制節(jié)能環(huán)保要求的產(chǎn)品需嚴(yán)格按相關(guān)規(guī)定執(zhí)行,。

無(wú)